VĚDA: Analytická chemie zkoumá malířská výtvarná díla
Znalost složení barevných vrstev malířských děl pomáhá restaurátorům při volbě vhodného postupu jejich restaurování a ochrany. Může však také pomoci určit staří daného díla nebo odhalit falza. Vzorky, které odeberou restaurátoři, jsou obvykle jen o málo větší než makové zrnko. Navíc jsou složeny z několika různých barevných vrstev obsahujících složitou směs pojiv a pigmentů a při analýze zpravidla nesmí být zničeny. Vývojem vhodných metod pro jejich zkoumání se zabývá Akademická laboratoř materiálového průzkumu malířských děl (ALMA), což je společné pracoviště Ústavu anorganické chemie AV ČR a Akademie výtvarných umění v Praze (AVU).
Analýza organických složek zahrnuje pojiva, organické pigmenty, laky a lazury. Pro základní rozlišení typů organických látek je používána především nedestruktivní infračervená spektroskopie FT-IR. Zcela rozhodující pro správnou interpretaci dat je přitom srovnávání výsledků s referenčními materiály a barevnými vrstvami připravenými podle historických receptur, které jsou součástí základního know-how společné laboratoře.
Obvykle používanými metodami analýzy anorganických pigmentů jsou optická a elektronová mikroskopie s EDX detektorem, pomocí níž lze určit prvkové složení v daném místě. Ne vždy je však možné jen na základě prvkového složení rozlišit o jaké pigmenty se jedná a je proto třeba použít další metody. Vedle spektroskopických metod může významně pomoci rentgenová prášková mikrodifrakce, pomocí níž lze v místě o průměru cca 100 µm určit fázové složení, tj. přímo minerály, pigmenty a další chemické sloučeniny. Naše pracoviště je zatím jediné, kde se tato metoda pro dané účely testuje a přináší velmi zajímavé výsledky.
ALMA - Akademická laboratoř materiálového průzkumu malířských děl
Obr.: Anděl z nástěnné malby Ignáce Oderlického z Kaple sv. Anny v Horním Městě u Rýmařova a mikroskopický snímek příčného řezu vzorku odebraného z jeho červené drapérie. Na snímku jsou čísly označeny jednotlivé barevné vrstvy včetně podkladu, žlutou elipsou je naznačena velikost místa měřeného mikrodifrakcí. .